ઉચ્ચ ગુણવત્તાની ઉચ્ચ કાર્યક્ષમતા WQF-520A FTIR સ્પેક્ટ્રોમીટર ફીચર્ડ ઈમેજ

ઉચ્ચ ગુણવત્તા ઉચ્ચ કાર્યક્ષમતા WQF-520A FTIR સ્પેક્ટ્રોમીટર

ટૂંકું વર્ણન:

નવા પ્રકારના ક્યુબ-કોર્નર મિશેલસન ઇન્ટરફેરોમીટરમાં નાના કદ અને વધુ કોમ્પેક્ટ માળખું છે, જે પરંપરાગત મિશેલસન ઇન્ટરફેરોમીટર કરતાં ઉચ્ચ સ્થિરતા અને સ્પંદનો અને થર્મલ ભિન્નતાઓ પ્રત્યે ઓછી સંવેદનશીલતા પ્રદાન કરે છે.
સંપૂર્ણપણે સીલબંધ ભીના અને ધૂળ-પ્રૂફ ઇન્ટરફેરોમીટર, ઉચ્ચ કાર્યક્ષમતા, લાંબા આજીવન સીલિંગ સામગ્રી અને ડેસીકેટરને અપનાવીને, પર્યાવરણ માટે ઉચ્ચ અનુકૂલનક્ષમતા સુનિશ્ચિત કરે છે અને કામગીરીમાં ચોકસાઈ અને વિશ્વસનીયતા વધે છે.સિલિકા જેલ માટે જોઈ શકાય તેવી વિન્ડો સરળ અવલોકન અને રિપ્લેસમેન્ટને સક્ષમ કરે છે.
આઇસોલેટેડ આઇઆર સ્ત્રોત અને મોટી જગ્યા હીટ ડિસીપેશન ચેમ્બર ડિઝાઇન ઉચ્ચ થર્મલ સ્થિરતા પ્રદાન કરે છે.ગતિશીલ ગોઠવણની જરૂરિયાત વિના સ્થિર હસ્તક્ષેપ પ્રાપ્ત થાય છે.
ઉચ્ચ તીવ્રતાનો IR સ્ત્રોત સમાન અને સ્થિર IR રેડિયેશન મેળવવા માટે રીફ્લેક્સ ગોળાને અપનાવે છે.

અમને ઇમેઇલ મોકલો

ઉત્પાદન વિગતો

ઉત્પાદન ટૅગ્સ

વિશેષતા

કૂલિંગ ફેન સ્ટ્રેચ સસ્પેન્ડિંગ ડિઝાઇન સારી યાંત્રિક સ્થિરતા સુનિશ્ચિત કરે છે.
સુપર વાઈડ સેમ્પલ કમ્પાર્ટમેન્ટ વિવિધ એક્સેસરીઝને સમાવવા માટે વધુ સુગમતા પ્રદાન કરે છે.
પ્રોગ્રામેબલ ગેઇન એમ્પ્લીફાયર, ઉચ્ચ ચોકસાઈ A/D કન્વર્ટર અને એમ્બેડેડ કમ્પ્યુટરનો ઉપયોગ સમગ્ર સિસ્ટમની ચોકસાઈ અને વિશ્વસનીયતામાં સુધારો કરે છે.
સ્પેક્ટ્રોમીટર ઓટોમેટિક કંટ્રોલ અને ડેટા કમ્યુનિકેશન માટે USB પોર્ટ દ્વારા PC સાથે કનેક્ટ થાય છે, પ્લગ-એન્ડ-પ્લે ઑપરેશનને સંપૂર્ણપણે સાકાર કરે છે.
વપરાશકર્તા મૈત્રીપૂર્ણ, સમૃદ્ધ કાર્ય સોફ્ટવેર સાથે સુસંગત પીસી નિયંત્રણ સરળ, અનુકૂળ અને લવચીક કામગીરીને સક્ષમ કરે છે.સ્પેક્ટ્રમ કલેક્ટ, સ્પેક્ટ્રમ કન્વર્ઝન, સ્પેક્ટ્રમ પ્રોસેસિંગ, સ્પેક્ટ્રમ વિશ્લેષણ અને સ્પેક્ટ્રમ આઉટપુટ ફંક્શન વગેરે કરી શકાય છે.
નિયમિત શોધ માટે વિવિધ વિશેષ IR પુસ્તકાલયો ઉપલબ્ધ છે.વપરાશકર્તાઓ પુસ્તકાલયોને ઉમેરી અને જાળવી શકે છે અથવા નવી લાઇબ્રેરીઓ જાતે સેટ કરી શકે છે.
ડિફ્યુઝ્ડ/સ્પેક્યુલર રિફ્લેક્શન, એટીઆર, લિક્વિડ સેલ, ગેસ સેલ અને આઈઆર માઈક્રોસ્કોપ વગેરે જેવી એક્સેસરીઝ નમૂનાના ડબ્બામાં માઉન્ટ કરી શકાય છે.

વિશિષ્ટતાઓ

સ્પેક્ટ્રલ રેન્જ: 7800 થી 350 સે.મી^-1
રિઝોલ્યુશન: 0.5cm કરતાં વધુ સારું^-1
વેવેનમ્બર ચોકસાઇ: ±0.01 સે.મી^-1
સ્કેનિંગ સ્પીડ: વિવિધ એપ્લિકેશનો માટે 5-સ્ટેપ એડજસ્ટેબલ
સિગ્નલ ટુ નોઈઝ રેશિયો: 15,000:1 કરતાં વધુ સારું (RMS મૂલ્ય, 2100cm પર^-1, રીઝોલ્યુશન: 4cm^-1, ડિટેક્ટર: DTGS, 1 મિનિટ ડેટા સંગ્રહ)
બીમ સ્પ્લિટર: જી કોટેડ KBr
ઇન્ફ્રારેડ સ્ત્રોત: એર-કૂલ્ડ, ઉચ્ચ કાર્યક્ષમતા રીફ્લેક્સ સ્ફિયર મોડ્યુલ
ડિટેક્ટર: DTGS
ડેટા સિસ્ટમ: સુસંગત કમ્પ્યુટર
સૉફ્ટવેર: FT-IR સૉફ્ટવેરમાં લાઇબ્રેરી સર્ચ, ક્વોન્ટિટેશન અને સ્પેક્ટ્રમ નિકાસ સહિત મૂળભૂત સ્પેક્ટ્રોમીટર ઑપરેશન માટે જરૂરી તમામ રૂટિનનો સમાવેશ થાય છે.
IR લાઇબ્રેરી 11 IR લાઇબ્રેરીઓ શામેલ છે
પરિમાણો: 54x52x26cm
વજન: 28 કિગ્રા

એસેસરીઝ

ડિફ્યુઝ/સ્પેક્યુલર રિફ્લેક્ટન્સ એક્સેસરી
તે બહુમુખી પ્રસરેલું પ્રતિબિંબ અને સ્પેક્યુલર પ્રતિબિંબ સહાયક છે.ડિફ્યુઝ રિફ્લેક્શન મોડનો ઉપયોગ પારદર્શક અને પાવડર નમૂનાના વિશ્લેષણ માટે થાય છે.સ્પેક્યુલર પ્રતિબિંબ મોડ એ સરળ પ્રતિબિંબીત સપાટી અને કોટિંગ સપાટીને માપવા માટે છે.

ઉચ્ચ પ્રકાશ થ્રુપુટ
સરળ કામગીરી, આંતરિક ગોઠવણની જરૂર નથી
ઓપ્ટિકલ એબરેશન વળતર
નાના લાઇટ સ્પોટ, સૂક્ષ્મ નમૂનાઓ માપવામાં સક્ષમ
ઘટનાનો ચલ કોણ
પાવડર કપનો ઝડપી ફેરફાર

આડું ATR / ચલ કોણ ATR (30°~ 60°)
આડું એટીઆર રબર, ચીકણું પ્રવાહી, મોટા સપાટીના નમૂના અને નમ્ર ઘન પદાર્થો વગેરેના વિશ્લેષણ માટે યોગ્ય છે. વેરિયેબલ એંગલ એટીઆરનો ઉપયોગ ફિલ્મો, પેઇન્ટિંગ (કોટિંગ) સ્તરો અને જેલ્સ વગેરેના માપન માટે થાય છે.

સરળ સ્થાપન અને કામગીરી
ઉચ્ચ પ્રકાશ થ્રુપુટ
IR ઘૂંસપેંઠની ચલ ઊંડાઈ

IR માઈક્રોસ્કોપ

સૂક્ષ્મ નમૂનાઓનું વિશ્લેષણ, લઘુત્તમ નમૂનાનું કદ: 100µm (DTGS ડિટેક્ટર) અને 20µm (MCT ડિટેક્ટર)
બિન-વિનાશક નમૂના વિશ્લેષણ
અર્ધપારદર્શક નમૂના વિશ્લેષણ
બે માપન પદ્ધતિઓ: પ્રસારણ અને પ્રતિબિંબ
સરળ નમૂના તૈયારી

સિંગલ રિફ્લેક્શન ATR
પોલિમર, રબર, રોગાન, ફાઇબર વગેરે જેવા ઉચ્ચ શોષણ સાથે સામગ્રીને માપતી વખતે તે ઉચ્ચ થ્રુપુટ પ્રદાન કરે છે.

ઉચ્ચ થ્રુપુટ
સરળ કામગીરી અને ઉચ્ચ વિશ્લેષણાત્મક કાર્યક્ષમતા
ZnSe, ડાયમંડ, AMTIR, Ge અને Si ક્રિસ્ટલ પ્લેટ એપ્લિકેશન અનુસાર પસંદ કરી શકાય છે.

આઇઆર ક્વાર્ટઝમાં હાઇડ્રોક્સિલના નિર્ધારણ માટે સહાયક

IR ક્વાર્ટઝમાં હાઇડ્રોક્સિલ સામગ્રીનું ઝડપી, અનુકૂળ અને સચોટ માપન
IR ક્વાર્ટઝ ટ્યુબ માટે સીધું માપન, નમૂનાઓ કાપવાની જરૂર નથી
ચોકસાઈ: ≤ 1×10^-6(≤ 1ppm)

સિલિકોન ક્રિસ્ટલ નિર્ધારણમાં ઓક્સિજન અને કાર્બન માટે સહાયક

ખાસ સિલિકોન પ્લેટ ધારક
સિલિકોન ક્રિસ્ટલમાં ઓક્સિજન અને કાર્બનનું સ્વચાલિત, ઝડપી અને સચોટ માપન
નીચલી શોધ મર્યાદા: 1.0×1016 સે.મી^-3(ઓરડાના તાપમાને)
સિલિકોન પ્લેટની જાડાઈ: 0.4~4.0 mm

SiO2 પાવડર ડસ્ટ મોનિટરિંગ એસેસરી

ખાસ SiO₂પાવડર ડસ્ટ મોનિટરિંગ સોફ્ટવેર
SiO નું ઝડપી અને સચોટ માપન₂પાવડર ધૂળ

ઘટક પરીક્ષણ સહાયક

MCT, InSb અને PbS વગેરે જેવા ઘટકોના પ્રતિભાવનું ઝડપી અને સચોટ માપન.
કર્વ, પીક વેવલેન્થ, સ્ટોપ વેવલેન્થ અને D* વગેરે રજૂ કરી શકાય છે.

ઓપ્ટિક ફાઇબર પરીક્ષણ સહાયક

આઇઆર ઓપ્ટિક ફાઇબરના નુકશાન દરનું સરળ અને સચોટ માપન, ફાઇબર પરીક્ષણ માટે મુશ્કેલીઓ દૂર કરે છે, કારણ કે તે ખૂબ જ પાતળા હોય છે, જેમાં ખૂબ જ નાના પ્રકાશ પસાર થતા છિદ્રો હોય છે અને તેને ઠીક કરવામાં અસ્વસ્થતા હોય છે.

જ્વેલરી ઇન્સ્પેક્શન એસેસરી