મજબૂત અને નબળા સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ વચ્ચે સ્વચાલિત સ્વિચિંગ: AES-8000 ફુલ-સ્પેક્ટ્રમ AC/DC આર્ક એમિશન સ્પેક્ટ્રોમીટર

પ્રદર્શન કરતી વખતેઉત્સર્જન સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી વિશ્લેષણ, તમને વારંવાર નીચેની સમસ્યાઓનો સામનો કરવો પડે છે: ઓછી સાંદ્રતા શોધ સાથે નબળી સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ ખૂબ ઝાંખી થઈ જાય છે, જેના પરિણામે વધુ પડતો અવાજ દખલગીરી અને બિનઉપયોગી ડેટા થાય છે; જ્યારે મજબૂત સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ ઉચ્ચ સાંદ્રતા પરીક્ષણ દરમિયાન સરળતાથી સંતૃપ્ત થાય છે અને સ્વ-શોષણનો ભોગ બને છે, જેના કારણે મોટા પ્રમાણમાં વિકૃત માત્રાત્મક પરિણામો આવે છે. સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ વચ્ચે મેન્યુઅલ સ્વિચિંગ માત્ર સમય માંગી લેતું નથી પણ ભૂલો થવાની સંભાવના પણ ધરાવે છે. હવે, મજબૂત અને નબળી સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ વચ્ચે સ્વચાલિત સ્વિચિંગ ઉપલબ્ધ છે:

આAES-8000 ફુલ સ્પેક્ટ્રમ AC/DC આર્ક એમિશન સ્પેક્ટ્રોમીટરBFRL માંથી મલ્ટી સ્પેક્ટ્રલ લાઇન જોઈન્ટ વિશ્લેષણ માટે "બુદ્ધિશાળી સંયોજન" છે, જે એક ક્લિકથી પૂર્ણ શ્રેણી માપનના પીડા બિંદુઓને ઉકેલે છે, જે ઉત્સર્જન સ્પેક્ટ્રમ વિશ્લેષણને વધુ કાર્યક્ષમ અને સચોટ બનાવે છે.

મજબૂત અને નબળા વર્ણપટ રેખાઓનું સ્વચાલિત રૂપાંતર શું છે?

સરળ શબ્દોમાં કહીએ તો, તે ઉત્સર્જન સ્પેક્ટ્રોસ્કોપી શોધ માટે એક "બુદ્ધિશાળી નિયમનકાર" છે. શોધ પ્રક્રિયા દરમિયાન, મેન્યુઅલ હસ્તક્ષેપની કોઈ જરૂર નથી, અને તે દરેક તત્વની સાંદ્રતા અને સામગ્રીના આધારે રીઅલ-ટાઇમમાં યોગ્ય તીવ્રતા સાથે સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ આપમેળે મેળવી શકે છે, સમગ્ર શ્રેણીમાં ખામીઓ વિના સચોટ માપન પ્રાપ્ત કરી શકે છે. ભલે તે ઓછી હોય કે ઊંચી સાંદ્રતા, હવે મેન્યુઅલી સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ બદલવાની જરૂર નથી. સોફ્ટવેર આપમેળે શ્રેષ્ઠ ઉકેલમાં અનુકૂલન કરી શકે છે!

મુખ્ય ફાયદો: તે "કાર્યક્ષમતા રાજા" કેમ બની શકે છે?

વિશાળ શ્રેણીનું સંપૂર્ણ કવરેજ: ઓછી સાંદ્રતા સંવેદનશીલતા જાળવવા માટે મજબૂત વર્ણપટ રેખાઓ પર આધાર રાખે છે, ઉચ્ચ સાંદ્રતા રેખીયતા જાળવવા માટે નબળી વર્ણપટ રેખાઓ પર આધાર રાખે છે, બહુવિધ માપન માટે પરિમાણો બદલવાની અથવા મેન્યુઅલી રેખાઓ બદલવાની જરૂર વગર, સમગ્ર સાંદ્રતા શ્રેણીને સરળતાથી આવરી લે છે.

વિકૃતિ વિરોધી: મજબૂત સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓનું વાસ્તવિક સમયનું નિરીક્ષણ, એકવાર થ્રેશોલ્ડ પહોંચી જાય પછી, તે આપમેળે નબળી સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ પર સ્વિચ કરે છે, જે ઉચ્ચ સાંદ્રતા માપન વિચલનની સમસ્યાને સંપૂર્ણપણે હલ કરે છે.

ચોકસાઈ સાથે ચેડા કરવામાં આવતા નથી: મજબૂત અને નબળી વર્ણપટ રેખાઓ એકબીજાના પૂરક છે, બહુવિધ વર્ણપટ રેખાઓના સંયુક્ત વિશ્લેષણમાં ઉચ્ચ ચોકસાઈ જાળવી રાખે છે.

તે "બુદ્ધિશાળી સ્વિચિંગ" કેવી રીતે પ્રાપ્ત કરે છે?

સ્વચાલિત અનુકૂલનના બે-પગલાંના અમલીકરણ, સિદ્ધાંત સરળ અને સમજવામાં સરળ છે:

(1) બહુવિધ કાર્યકારી વળાંકોનું સહઅસ્તિત્વ: સોફ્ટવેર એકસાથે એક જ તત્વના વિવિધ શક્તિઓ અને નબળાઈઓ સાથે બહુવિધ વિશ્લેષણ સ્પેક્ટ્રલ લાઇન સિગ્નલો એકત્રિત કરે છે, અને દરેક સ્પેક્ટ્રલ લાઇનના કાર્યકારી વળાંકને બંધબેસે છે. મજબૂત/નબળા સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓના જૂથને પૂર્ણ કરવા માટે દરેક કાર્યકારી વળાંકની રેખીય શ્રેણીના આધારે રૂપાંતર થ્રેશોલ્ડ સેટ કરો.

(2) ગતિશીલ સ્વિચિંગ: પ્રથમ, માપન પર પ્રભુત્વ મેળવવા માટે મજબૂત સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓનો ઉપયોગ કરો. એકવાર શોધ પરિણામ થ્રેશોલ્ડ પર પહોંચી જાય, પછી તે આપમેળે નબળી સ્પેક્ટ્રલ રેખાઓ પર સ્વિચ થશે અને સમગ્ર પ્રક્રિયા દરમિયાન એકીકૃત રીતે સંક્રમણ કરશે.

એપ્લિકેશન દૃશ્યો

ભૂસ્તરશાસ્ત્રીય ઉદ્યોગ માટે માટી અને પ્રવાહના કાંપના નમૂનાઓમાં ચાંદી (Ag), બોરોન (B), ટીન (Sn), મોલિબ્ડેનમ (Mo), અને સીસા (Pb) ના નિર્ધારણમાં, મજબૂત અને નબળી રેખાઓ વચ્ચે સ્વચાલિત સ્વિચિંગના ફાયદા સંપૂર્ણપણે સાકાર થાય છે.

ઓછી સાંદ્રતા સામગ્રી માટે, મજબૂત રેખાઓ—Ag (328.068 nm), Sn (317.50 nm), B (249.773 nm), Mo (313.2594 nm), અને Pb (283.3069 nm)—ચોક્કસપણે ટ્રેસ ઘટકોને કેપ્ચર કરે છે. જ્યારે સાંદ્રતા રેખા-સ્વિચિંગ થ્રેશોલ્ડ કરતાં વધી જાય છે, ત્યારે સિસ્ટમ સંતૃપ્તિ ટાળવા માટે આપમેળે નબળી રેખાઓ પર સ્વિચ કરે છે, અને બહુવિધ સ્વિચ પણ કરી શકે છે (દા.ત., Pb માટે). મજબૂત અને નબળી રેખાઓ બંનેનો ઉપયોગ કરીને સંયુક્ત વિશ્લેષણ દ્વારા, સિસ્ટમ માત્ર નીચા-સ્તરની શોધ માટેની આવશ્યકતાઓને પૂર્ણ કરતી નથી પરંતુ માટી અને પ્રવાહના કાંપના નમૂનાઓ માટે જરૂરી શોધ શ્રેણીઓને પણ આવરી લે છે.